?恒溫恒濕試驗箱可以準確地模擬低溫,、高溫,、高溫高濕,、低溫低濕等復雜的自然狀環(huán)境,，適合電子、電器,、通訊,、儀表、車輛,、塑膠制品,、金屬、食品,、化學,、建材、醫(yī)療,、航天等制品檢測質量之用,。

恒溫恒濕試驗箱滿足標準：

恒溫恒濕試驗箱性能指標符合GB5170、2,、3,、5、6-95《電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法低溫,、高溫,、恒定濕熱、交變濕熱試驗設備》的要求:

1.電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法GB2423.1-89(IEC68-2-1)

2.電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法GB2423.2-89(IEC68-2-2)

3.電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T2423.3-93(IEC68-2-3)

4.電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Da：交變濕熱試驗方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)

恒溫恒濕試驗箱滿足的標準：

1.GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法

2.GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法

3.GJB150.9-1986《環(huán)境試驗方法：濕熱試驗》

4.GJB4.6-1983《船舶電子設備環(huán)境試驗交變濕熱試驗》

5.GJB367.2-1987《通信設備通用技術條件環(huán)境試驗方法》411濕熱試驗

6.GJB4.5-1983《船舶電子設備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗》

7.GB10592-93《高,、低溫試驗箱技術條件》

8.GB10586-93《濕熱試驗箱技術條件》

9.GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗

10.GB/T5170.2-96《溫度試驗設備》

11.GB/T5170.5-96《濕熱試驗設備》

恒溫恒濕試驗箱校驗標準

1.電子工業(yè)部第五研究所編寫的GB/T5170.1-1995《電工電子產品恒溫恒濕試驗設備基本參數檢定方法總則》,、GB/TS170.2-1996《電工電子產品恒溫恒濕試驗設備基本參數檢定方法溫度試驗設備》,、GB/T5170-1996《電工電子產品恒溫恒濕試驗設備基本參數檢定方法濕熱試驗設備等》。

2.河北省計量科學研究院編寫的JJF1101-2003《恒溫恒濕試驗設備溫度,、濕度校準規(guī)范》,。

3.機械電子工業(yè)部編寫的GBI1158-1989《高溫試驗箱技術條件》、GB10589-1989《低溫試驗箱技術條件》,、GB10592-1899《高低溫試驗箱技術條件》GB10586-1989《濕熱試驗箱技術條件》,、GB10587-1989《鹽霧試驗箱技術條件》等。